[发明专利]一种基于荧光余辉的非接触式测温方法及装置在审
| 申请号： | 202010189386.0 | 申请日： | 2020-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN111238661A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京科易达知识产权服务有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10;G01J5/00;G01J5/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100000 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于荧光余辉的非接触式测温方法，聚焦被测物体的热红外辐射到荧光材料上；激发光照射所述被测物体的热红外辐射聚焦处，荧光材料发出荧光；关闭激发光后获取所述荧光材料的荧光余辉并转换为电信号；对所述电信号进行放大与积分；根据所述积分值计算所述被测物体表面温度值。本发明能够获得比现有热堆电子学热红外辐射探测器件更加高的温度灵敏度，根据现有材料和技术，温度灵敏度可达到0.1度，比较现有热红外测温技术提高5倍以上；本发明在透明的低导热系数聚合物材料基片上直接涂敷荧光材料薄膜，无需进行探测元件的半导体器件制造，降低了成本；本发明采用针对荧光波长的带通滤波片，降低环境光线对检测精度的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 荧光 余辉 接触 测温 方法 装置 | ||
【主权项】：
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