[发明专利]存储芯片及其测试电路与测试方法有效
| 申请号： | 202010166388.8 | 申请日： | 2020-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN111292797B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 王颀;张桔萍;刘飞;霍宗亮 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张静 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种存储芯片及其测试电路与测试方法，复用存储芯片的微处理器作为存储芯片中测试电路的控制器，复用存储芯片的页缓冲器作为测试电路的比较电路，只需在存储芯片中增加一测试向量生成电路，即可实现在存储芯片中内建自测试电路，相对于单独增加控制器、比较电路以及测试向量生成电路的传统方案，大大缩小了测试电路尺寸，便于存储芯片小型化设计，降低了制作成本。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 及其 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所，未经中国科学院微电子研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010166388.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
