[发明专利]掩膜版有效
申请号: | 202010130655.6 | 申请日: | 2020-02-28 |
公开(公告)号: | CN111308853B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 傅伟 | 申请(专利权)人: | 合肥维信诺科技有限公司 |
主分类号: | G03F1/42 | 分类号: | G03F1/42 |
代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 张书涛 |
地址: | 230000 安徽省合*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及一种掩膜版,所述掩膜版主体间隔设置有第一图形区域和第二图形区域。所述掩膜版主体在待曝光区域拼接曝光形成相邻的两个曝光单元。所述第一图形区域在所述待曝光区域形成的第一图案。所述第二图形区域在所述待曝光区域曝光形成的第二图案。在没有拼接曝光误差的情况下,所述第一图案和所述第二图案的位置关系为标准状态。当所述两个曝光单元拼接曝光出现误差时,根据所述第一图案和所述第二图案相对于标准状态的角度偏差可以得到所述两个曝光单元拼接位置偏转的角度,进而可以根据所述角度偏差调整曝光设备或者所述掩膜版,从而进一步提高所述待曝光区域的图案的精确度。 | ||
搜索关键词: | 掩膜版 | ||
【主权项】:
暂无信息
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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