[发明专利]一种光学测试系统在审
| 申请号： | 202010122042.8 | 申请日： | 2020-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN111239066A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 张顺起;陈建强;刘爱江;陈泽海 | 申请（专利权）人： | 深圳市杰普特光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/59 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 李飞 |
| 地址： | 518110 广东省深圳市龙华区观湖*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种光学测试系统，涉及光学测试技术领域。该光学测试系统包括聚焦透镜、双开口积分球和第一光谱仪，所述聚焦透镜设置于所述双开口积分球前方，用于聚焦预设光；所述双开口积分球设置有上开口和下开口，所述双开口积分球的上开口与所述聚焦透镜相对，所述双开口积分球的下开口设置于所述聚焦透镜和所述双开口积分球的上开口的延长线上；所述第一光谱仪与所述双开口积分球连接，用于收集所述双开口积分球的数据，并测量测试样品的透射率或反射率。该光学测试系统可以实现保证测试速度和测试精度的同时简化结构，减小设备体积的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 测试 系统 | ||
【主权项】：
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