[发明专利]一种散斑干涉图的相位测量方法、系统、装置和存储介质有效
| 申请号： | 202010102221.5 | 申请日： | 2020-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN111256584B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 蔡长青 | 申请（专利权）人： | 广州大学 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 黎扬鹏 |
| 地址： | 510006 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种散斑干涉图的相位测量方法、系统、装置和存储介质，所述方法包括获取一组散斑干涉图以及一组相位步长，将散斑干涉图和相位步长代入公式中，从而确定对所述散斑干涉图测量所得的相位等步骤。在执行散斑干涉图的相位测量方法时，其所使用的相位步长可以是任意给定的，不再依赖“真实的相位步长而知”这一前提条件，因此避免了现有技术中由于不能使用真实的相位步长而导致的测量误差；在任意步长的情况下，能较好地减小相位噪声，从而取得较为准确的测量结果。本发明广泛应用于测量技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 干涉 相位 测量方法 系统 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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