[发明专利]基于分数域参数检测的光学相干层析成像色散补偿方法在审

专利信息
申请号: 202010096409.3 申请日: 2020-02-17
公开(公告)号: CN112630188A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 辛怡;刘地;陶然;李勤;葛传斌 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G06F17/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于分数域参数检测的光学相干层析成像色散补偿方法,属于光学信号处理领域。对频域OCT的A‑scan干涉信号,首先在多个分数域进行分数傅里叶功率谱峰值粗搜索,然后在最大峰值所在的分数域附近阶次进行局部精细搜索,若搜索到的分数功率谱峰值大于预设的阈值γ则记下当前阶次,然后利用分数傅里叶域滤波移除当前检测到的色散分量,避免了样品不同深度色散之间的干扰,最后用相位校正项重构频域OCT的干涉信号,再进行傅里叶变换获得色散校正后的OCT图像。本方法在保证精度的同时,有效降低了计算复杂度,能够自适应地补偿OCT成像过程中样品多个深度的色散,实现了全深度色散检测和校正。
搜索关键词: 基于 分数 参数 检测 光学 相干 层析 成像 色散 补偿 方法
【主权项】:
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