[发明专利]非接触姿态测量方法、装置以及存储介质在审
| 申请号： | 202010093744.8 | 申请日： | 2020-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN111256650A | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 杨君;徐唐进;习先强;孙化龙 | 申请（专利权）人： | 天津时空经纬测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01B11/27;G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 | 代理人： | 刘冀 |
| 地址： | 300380 天津市西青区中*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种非接触姿态测量方法、装置以及存储介质。其中，非接触姿态测量方法包括：判定第一光学准直装置与设置于被测物体的第一测量面是否对准，其中在第一光学准直装置与第一测量面对准的情况下，第一光学准直装置的轴线与第一测量面的法线平行；以及在判定第一光学准直装置与第一测量面对准的情况下，根据与第一光学准直装置的姿态相关的第一测量信息，确定被测物体的第一姿态信息。达到了在不与被测物体接触的情况下，能够获取与被测物体相关的姿态信息，并且在获取到与被测物体相关的姿态信息的情况下，能够确定被测物体的姿态的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 姿态 测量方法 装置 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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