[发明专利]半导体器件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202010092525.8 申请日: 2020-02-14
公开(公告)号: CN113270405A 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 雒曲;徐政业 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 杜娟娟
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种半导体器件及其制作方法。该方法包括:提供半导体基板;形成第一字线沟槽结构;在第一字线沟槽结构底部形成第一牺牲层;利用外延生长法填满位于有源区内的第一字线沟槽结构;形成第一绝缘层,其覆盖半导体基板的顶部和第一字线沟槽结构,并将第一字线沟槽结构封口;在有源区内形成第二字线沟槽结构和鳍型结构,第二字线沟槽结构的深度小于第一字线沟槽结构的深度,且第二字线沟槽结构在竖直方向上的投影与第一牺牲层在竖直方向上的投影完全重叠;去除第一牺牲层以形成字线隧道与所述第一字线沟槽结构连通;对第一字线沟槽结构、第二字线沟槽结构和字线隧道进行填充,以形成埋入式字线结构,埋入式字线结构环绕鳍型结构。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制作方法
【主权项】:
暂无信息
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