[发明专利]用于减轻针对存储器装置的选择失败的技术在审
| 申请号： | 202010082505.2 | 申请日： | 2020-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN111667867A | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | K.班纳吉 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G11C16/08 | 分类号： | G11C16/08;G11C16/34 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李啸;闫小龙 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 示例可包括减轻某个时间段上的电压阈值漂移的技术，该电压阈值漂移对于选择存储器装置的存储器单元而言可导致选择失败。跳回事件检测用于确定是否使用一个或多个选择偏置电压已经为至少第一刷新写入操作选择了选择的存储器单元。可以基于该确定来实现随后的刷新写入操作。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 减轻 针对 存储器 装置 选择 失败 技术 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英特尔公司，未经英特尔公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010082505.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
