[发明专利]DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法有效

专利信息
申请号: 202010064113.3 申请日: 2020-01-20
公开(公告)号: CN111238644B 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 吴银花;王鹏冲;吴慎将;聂亮;张伟光;刘王云;魏儒义 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法,其能够准确解析干涉条纹的相位信息,并能够准确测量所观测恒星的视向速度。包括以下步骤:步骤1:根据光谱波数范围Δk,确定在波数方向上离散采样点总数N和探测器沿色散方向的采样率kint=Δk/N;步骤2:根据公式(12)确定仪器中固定延迟干涉仪模块的光程差d,选取最大值1/2kint;步骤3:对仪器获取的二维干涉光谱,沿波数方向进行傅里叶变换,将干涉信息转换到频域空间;步骤4:在频域空间,通过利用带通或高通滤波,滤除白光导致的干涉条纹信息S1的±d频率项;步骤5:对经过滤波后的干涉光谱频域信息,再进行傅里叶逆变换,获得由恒星吸收线导致的摩尔条纹S2。
搜索关键词: dfdi 仪器 干涉 光谱 白光 干扰 去除 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安工业大学,未经西安工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010064113.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top