[发明专利]DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法有效
申请号: | 202010064113.3 | 申请日: | 2020-01-20 |
公开(公告)号: | CN111238644B | 公开(公告)日: | 2022-02-22 |
发明(设计)人: | 吴银花;王鹏冲;吴慎将;聂亮;张伟光;刘王云;魏儒义 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
地址: | 710032 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: |
本发明涉及一种DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法,其能够准确解析干涉条纹的相位信息,并能够准确测量所观测恒星的视向速度。包括以下步骤:步骤1:根据光谱波数范围Δk,确定在波数方向上离散采样点总数N和探测器沿色散方向的采样率k |
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搜索关键词: | dfdi 仪器 干涉 光谱 白光 干扰 去除 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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