[发明专利]一种基于双线结构光扫描的高反射率表面三维测量方法在审
| 申请号： | 202010063291.4 | 申请日： | 2020-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN111256587A | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 钟可君;伏燕军;王朝旭;倪武;专宇浩 | 申请（专利权）人： | 南昌航空大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 南昌洪达专利事务所 36111 | 代理人： | 黄文亮 |
| 地址： | 330063 江*** | 国省代码： | 江西;36 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于双线结构光扫描的高反射率表面三维测量方法，包括以下步骤，步骤一、对相机内、外参以及两个激光平面进行标定；步骤二、识别捕获图像中的左右激光光带，进行受扰区域抠除，然后进行条纹中心提取；步骤三、根据两组条纹中心以及相对应的标定参数计算物体在同一世界坐标系下的两组三维信息，两组点云进行融合，从而恢复物体三维形貌，通过构建双线结构光扫描系统，解决了激光光带质量受高强度镜面反射光干扰问题，利用图像处理算法对条纹膨胀区域进行去除，通过准确的条纹中心提取与双线结构光系统获得的两组点云数据融合，得到完整物体三维形貌，解决了镜面反射光影响激光条纹质量引起的三维信息计算错误，提高了测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 双线 结构 扫描 反射率 表面 三维 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南昌航空大学，未经南昌航空大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010063291.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
