[发明专利]基于概率统计的单粒子多单元翻转信息提取方法有效
| 申请号： | 202010061603.8 | 申请日： | 2020-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN111274749B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 王勋;罗尹虹;丁李利;张凤祁;陈伟;郭晓强;王坦;赵雯 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究院 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33;G06F30/34 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王凯敏 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 为了解决现有MCU信息提取方法成本高，或者虽然成本低但只适用于未采用位交错技术的SRAM的问题，本发明提供了一种基于概率统计的单粒子多单元翻转信息提取方法。本发明从待测器件的单粒子翻转数据中，在相同的BHD值下，将出现频率明显高于其他值的XOR提取出来，作为判断相邻关系的MCU模板，并利用该MCU模板从单粒子翻转数据中提取MCU信息，从而降低了研究成本，提高了研究效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 概率 统计 粒子 单元 翻转 信息 提取 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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