[发明专利]半导体晶圆的安装方法和半导体晶圆的安装装置在审

专利信息
申请号: 202010061259.2 申请日: 2015-12-23
公开(公告)号: CN111261590A 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 山本雅之;奥野长平 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: H01L21/78 分类号: H01L21/78;H01L21/67
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供用于跨着在背面形成有环状凸部的半导体晶圆的该背面和环框地精度良好地粘贴支承用的粘合带的半导体晶圆的安装方法和半导体晶圆的安装装置。在使粘贴于环框(f)的粘合带(T)和晶圆(W)的背面接近并相对的状态下,将半导体晶圆(W)容纳并保持于一对罩中的一个罩并利用两罩夹持粘合带(T)而形成腔室。使腔室内的由粘合带(T)分隔而成的两个空间之间产生压力差,并且,一边加热粘合带(T)一边使该粘合带(T)凹入弯曲,从而将该粘合带(T)粘贴于晶圆(W)的背面。在消除压力差和停止加热之后,一边对粘合带(T)进行再加热一边将粘合带(T)粘贴于晶圆(W)。
搜索关键词: 半导体 安装 方法 装置
【主权项】:
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