[发明专利]射频测试和校准装置及射频测试和校准方法在审

专利信息
申请号: 202010048168.5 申请日: 2020-01-16
公开(公告)号: CN111123078A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 陈晓菡 申请(专利权)人: 普联技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 王善娜
地址: 518000 广东省深圳市南山区深南路科技*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明适用于电路板测试技术领域,提供了一种射频测试和校准装置及射频测试和校准方法,该射频测试和校准装置包括第一测试点,与所述射频链路的第一端连接;第二测试点,与所述射频链路的第二端连接,且与所述第一测试点相间隔;以及至少一个接地焊盘;该射频测试和校准装置允许通过第一测试点和第二测试点分别对射频链路的不同端进行测试和/或校准,并且,在完成测试后通过将第一测试点和第二测试点短接即可使得射频链路形成通路以正常工作,无需使用连接座,节省物料成本,操作可以更简便;基于该射频测试和校准装置的射频测试和校准方法,其测试过程无需使用连接座,测试过程更简便,并且测试成本得以降低。
搜索关键词: 射频 测试 校准 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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