[发明专利]一种电离层总电子含量长期变化分析方法有效

专利信息
申请号: 202010047318.0 申请日: 2020-01-16
公开(公告)号: CN111369034B 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 刘杨;宾学恒 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06Q10/04 分类号: G06Q10/04
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;邓治平
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种电离层总电子含量长期变化分析方法,首先考虑太阳活动、地磁活动与中性大气成分的影响,在此基础上建立电离层总电子含量随时间变化的模型,然后利用全球观测系统获得的电离层总电子含量长期观测结果建立方程组,计算模型系数;进一步利用长期的电离层总电子含量观测值计算模型值与观测值之间的相关性,并以此作为模型精度的评价标准。分别对多源电离层总电子含量长期观测值进行模型相关性分析,判断各影响因素对电离层总电子含量长期变化的作用权重。分别对全球不同区域进行上述分析,判断各区域的电离层总电子含量随时间变化的差异性。本方法可对全球电离层总电子含量的长期变化进行有效分析。
搜索关键词: 一种 电离层 电子 含量 长期 变化 分析 方法
【主权项】:
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