[发明专利]基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测系统及检测方法在审
| 申请号： | 202010045279.0 | 申请日： | 2020-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN111127462A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 张发恩;郭勅君 | 申请（专利权）人： | 创新奇智（合肥）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/50;G06T7/12;G06T5/00;G01N21/88 |
| 代理公司： | 广州鼎贤知识产权代理有限公司 44502 | 代理人： | 刘莉梅 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市高新区习友路333*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测系统，该成衣印花缺陷检测系统基于多曝光成像技术，通过对待检测的印花样本进行多曝光拍摄，形成多张不同曝光拍摄模式下对应的曝光图，然后将各张曝光图与在同一曝光拍摄模式下拍摄的基准曝光图进行逐一的缺陷比对，最终得到对印花样本的缺陷检测结果，本发明实现了对印花缺陷检测的全自动化，整个检测过程快速、高效，无需借助质检员以往的质检经验，所作出的印花缺陷检测结果更加准确、客观。本发明还提供给了一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 曝光 成像 成衣 印花 缺陷 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于创新奇智（合肥）科技有限公司，未经创新奇智（合肥）科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010045279.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种球拍及击球识别方法
- 下一篇：温脾降糖颗粒及其制备方法和应用
