[发明专利]一种用于三维形貌测量的光场相机校准方法有效

专利信息
申请号: 202010024192.5 申请日: 2020-01-10
公开(公告)号: CN111351446B 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 李浩天;钱至文;丁俊飞 申请(专利权)人: 奕目(上海)科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/00
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊
地址: 201109 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种用于三维形貌测量的光场相机校准方法,对空间中不同位置的校准板和对应的光场原始图像进行校准,获得光场视差图像和三维空间信息的对应关系;利用光场相机拍摄多张散焦柔光纯色校准板,得到光场白图像;根据光场相机白图像计算得到去渐晕矩阵;并且迭代计算得到光场相机微透镜亚像素级中心坐标矩阵;光场相机拍摄多个已知三维空间位置的圆点校准板并进行去渐晕处理;建立从三维坐标到视差之间的光场数学模型,根据光场三维成像规律及圆点三维空间信息拟合计算得到圆点校准对应的圆点中心坐标及视差值本发明能够高效精确地将光场视差图像转为无主镜头畸变的三维空间信息。
搜索关键词: 一种 用于 三维 形貌 测量 相机 校准 方法
【主权项】:
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