[发明专利]基于人类视觉特性的微型磁瓦表面缺陷检测方法有效
| 申请号： | 202010022294.3 | 申请日： | 2020-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN111210419B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 李俊峰;王宏鹏;沈军民 | 申请（专利权）人： | 浙江理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136 |
| 代理公司： | 杭州中成专利事务所有限公司 33212 | 代理人： | 金祺 |
| 地址： | 310018 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于人类视觉特性的微型磁瓦表面缺陷检测方法：包括以下步骤：(1)图像采集，得到图像Image；执行步骤2；(2)通过阈值分割从图像Image得到磁瓦图像Region；执行步骤3；(3)磁瓦图像Region屏蔽边缘区域，得到屏蔽后的图像；执行步骤4；(4)屏蔽后的图像结构张量计算；执行步骤5；(5)缺陷区域提取。本发明从人体视觉的本质出发，结合尺度变换与结构张量完成对磁瓦表面多种缺陷的检测。相比传统检测算法只能针对单一的缺陷，本系统检测算法不仅可以同时检测掉块、磕边和划痕的缺陷，而且还能适应光照在一定范围内变化的情形。此外，本发明检测方法能够满足企业生产的精度与速度需求，且能够稳定的运行，可以进行生产应用。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 人类 视觉 特性 微型 表面 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江理工大学，未经浙江理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010022294.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
