[发明专利]集成在氮化镓半导体装置上的嵌位电路及相关半导体装置在审

专利信息
申请号: 202010014156.0 申请日: 2020-01-07
公开(公告)号: CN111192872A 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 管要宾;盛健健 申请(专利权)人: 英诺赛科(珠海)科技有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/20;H01L29/778
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王允方
地址: 519085 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明关于一种半导体装置以及嵌位电路。所述半导体装置包含:一衬底;一第一半导体层,设置在所述衬底上并且由三族氮化物半导体材料构成;一第二半导体层,设置在所述第一半导体层上并且由三族氮化物半导体材料构成;一功率晶体管结构,包含有一栅级结构、一漏级结构和一源级结构设置于所述第二半导体层上;一或多个第一晶体管结构(M1…M4),设置在所述第二半导体层上;及一或多个第二晶体管结构(M5…Mn),串连地设置在所述第二半导体层上,其中所述一或多个第一晶体管结构(M1…M4)的一端和所述一或多个第二晶体管结构(M5…Mn)的一端共同电连接至所述功率晶体管结构的所述漏级结构,且所述一或多个第一晶体管结构(M1…M4)的另一端和所述一或多个第二晶体管结构(M5…Mn)的另一端共同电连接至所述功率晶体管结构的所述源级结构。
搜索关键词: 集成 氮化 半导体 装置 电路 相关
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