[发明专利]一种参数快速扫描测试装置和方法有效
| 申请号： | 202010007232.5 | 申请日： | 2020-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN112305400B | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 李小虎;刘建明;杨超;谌谦;宋宇;张超;吴羿;杜超 | 申请（专利权）人： | 成都华微电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人： | 刘勋 |
| 地址： | 610041 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及电路测试领域，特别涉及一种参数快速扫描测试装置和方法。其中，测试装置包括参数设置模块、扫描测试模块和数据输出模块；参数设置模块存储测试的参数信息、参数定义和测试的上下限信息；参数设置完成之后，参数设置模块根据设定的信息循环调用扫描测试模块，并将参数定义和上下限信息发送给数据输出模块以供格式化数据使用；扫描测试模块负责在设定好的运行环境中扫描测试得到参数的阈值，并将扫描测试结果发送给数据输出模块。本发明的测试装置采用了优化算法，节省了扫描时间，可以快速进行扫描测试，测试效率高。而且还可以在线修改调试参数并运行，调试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 参数 快速 扫描 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都华微电子科技股份有限公司，未经成都华微电子科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010007232.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种模数转换器测试装置和方法
- 下一篇：旋转感测设备
