[实用新型]一种基于FPGA的NOR Flash测试系统

摘要

本实用新型涉及闪存技术领域，公开了一种基于FPGA的NOR Flash测试系统，包括FPGA主控板和设于老化箱内的底座板，底座板上设有NOR Flash存储器，FPGA主控板上设有FPGA芯片；FPGA芯片设有用于选通NOR Flash存储器的控制端，其与NOR Flash存储器的片选信号端连接；FPGA芯片还设有用于读取NOR Flash存储器中的数据的数据信号端，其与NOR Flash存储器的数据信号端连接，使得能够通过FPGA芯片读取NOR Flash存储器中当前的数据，并与存储器中的初始数据进行比较，以识别出NOR Flash存储器在高低温的条件下的数据保持能力，实现了对Nor Flash存储器的测试。

主权项

1.一种基于FPGA的NOR Flash测试系统，其特征在于，包括FPGA主控板和设于老化箱内的底座板，所述底座板上设有NOR Flash存储器，所述FPGA主控板上设有用于识别所述NOR Flash存储器的数据保持能力的FPGA芯片；所述FPGA芯片设有用于选通所述NOR Flash存储器的控制端，所述FPGA芯片的控制端与所述NOR Flash存储器的片选信号端连接；所述FPGA芯片还设有用于读取所述NOR Flash存储器中的数据的数据信号端，所述FPGA芯片的数据信号端与所述NOR Flash存储器的数据信号端连接。