[发明专利]一种基波电压过零点自动检测方法、系统及采样装置有效

专利信息
申请号: 201911134497.5 申请日: 2019-11-19
公开(公告)号: CN110780110B 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 郑坚;王奔;陈潇;刘维城;戴珏珺 申请(专利权)人: 浙江南德电力设备制造有限公司
主分类号: G01R19/175 分类号: G01R19/175
代理公司: 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 代理人: 姚宇吉
地址: 313200 浙江省湖州市德清*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种基波电压过零点自动检测方法、系统及采样装置,包括通过单片机对交流信号进行采样;采样至少两个周期,获得若干采样点,标记每个采样点及采样点的平面坐标;将两个相邻采样点和基准值进行比较判断采样点是否是过零点,再判断是正向过零还是反向过零,得到过零点数组Zn;以此过零点数组Zn来代表过零点的平面图形意义。依据采样波形的周期性函数特征对过零点数组进行判断,排除干扰过零点数组;通过找到至少两个采样周期内的基波电压正弦波过零点数组或基波电压正弦波过零点处的陷波过零点数组或谐波过零点数组,推算下个周期过零点数组。本发明提出一种利用有ADC功能的单片机采样并检测过零点的方法,抗干扰性强,精度高。
搜索关键词: 一种 基波 电压 零点 自动检测 方法 系统 采样 装置
【主权项】:
1.一种基波电压过零点自动检测方法,其特征在于步骤如下:/n步骤1,确定采样波形周期性函数特征;/n步骤2,通过单片机对交流电压信号进行采样;/n步骤3,对单片机电源基准值进行校准,消除基准偏差;/n步骤4,采样至少两个周期,获得若干采样点,标记每个采样点及采样点的平面坐标;/n步骤5,将两个相邻采样点平面Y坐标和单片机电源基准值进行比较可以判断出采样点是否是过零点,再对相邻采样点平面XY坐标进行斜率运算判断是正向过零还是反向过零,并以所述过零点平面X坐标和斜率获得过零点数组Zn;以所述过零点数组Zn代表过零点的平面图形意义;/n步骤6,依据采样波形的周期性函数特征对正反向电压过零点数组进行判断,排除干扰电压过零点数组;/n步骤7,按采样周期顺序分别找出基波电压过零点数组或基波电压过零点处陷波过零点数组或基波电压过零点处谐波过零点数组,以第一个基波电压过零点数组或基波电压过零点处陷波过零点数组或基波电压过零点处谐波过零点数组为计算起始点,计算基波电压过零点数组或基波电压过零点处陷波过零点数组或基波电压过零点处谐波过零点数组之间的周期值,推算下一个周期的基波电压过零点数组或基波电压过零点处陷波过零点数组或基波电压过零点处谐波过零点数组。/n
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