[发明专利]一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法有效
| 申请号： | 201910330272.0 | 申请日： | 2019-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN110136212B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 冯晓帆;刘璐宁;郑增强;张胜森;马尔威;吴红君;袁捷宇;刘荣华 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/90 | 分类号： | G06T7/90;G06T7/00;G06T5/00;G06K9/00;G01N21/95;G01N21/88 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 赵伟 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，由此将OLED DeMura中子像素点的亮度提取精度量化，将其应用于实际生产可提高DeMura设备修复Mura缺陷的精度，规避子像素亮度提取不准确导致后续Mura补偿不成功的问题；本发明提供的DeMura设备检测方法，用调制传递函数表征DeMura设备成像系统对输入信号的作用，反映DeMura设备的噪声水平，可用于检测DeMura设备是否处于正常运行状态，作为定量评估DeMura设备优劣的检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 demura 设备 像素 亮度 提取 精度 评判 方法 噪声 检测 | ||
【主权项】：
1.一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法，其特征在于，用白噪声亮度理论值与所述白噪声经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度。
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