[发明专利]隔垫物高度测量装置及隔垫物高度测量方法有效

专利信息
申请号: 201910219076.6 申请日: 2019-03-21
公开(公告)号: CN109765705B 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 杨星 申请(专利权)人: TCL华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/1339;G01B11/02
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂;王中华
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种隔垫物高度测量装置及隔垫物高度测量方法。所述隔垫物高度测量装置包括:测量镜头及与所述测量镜头相连的校正模块;所述测量镜头用于按照测量算法拍摄待测量的隔垫物并测量隔垫物的高度;所述校正模块用于在测量镜头拍摄隔垫物并测量隔垫物的高度的同时,对所述测量算法进行自动校正,以调整所述隔垫物在测量镜头中的位置及所述隔垫物在测量镜头中的清晰度,通过在隔垫物高度测量的同时进行自动校正测量算法,能够有效减少算法校正时间,提升生产效率。
搜索关键词: 隔垫物 高度 测量 装置 测量方法
【主权项】:
1.一种隔垫物高度测量装置,其特征在于,包括:测量镜头(10)及与所述测量镜头(10)相连的校正模块(20);所述测量镜头(10)用于按照测量算法拍摄待测量的隔垫物并测量隔垫物的高度;所述校正模块(20)用于在测量镜头(10)拍摄隔垫物并测量隔垫物的高度的同时,对所述测量算法进行自动校正,以调整所述隔垫物在测量镜头(10)中的位置及所述隔垫物在测量镜头(10)中的清晰度。
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