[发明专利]下窄边框显示面板有效
| 申请号： | 201910089259.0 | 申请日： | 2019-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN109727563B | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 余文静;严志成 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本揭示提供了一种下窄边框显示面板，所述下窄边框显示面板包括:像素单元；阵列测试单元，所述阵列测试单元包括多个阵列测试开关和多个阵列测试焊盘；以及单元测试单元，所述单元测试单元包括多个单元测试开关；其中，所述阵列测试单元设置于所述像素单元与所述单元测试单元之间，所述多个阵列测试开关的一端连接至所述像素单元的多条数据线，所述多个单元测试开关连接至所述多个阵列测试开关的另一端。本揭示将阵列测试电路与单元测试电路合并，在保证测量效果的同时，减小了阵列测试电路和单元测试电路原本所占据的空间，从而缩窄显示面板的下边框宽度。 | ||
| 搜索关键词： | 边框 显示 面板 | ||
【主权项】：
1.一种下窄边框显示面板，其特征在于，所述下窄边框显示面板包括:像素单元；阵列测试单元，所述阵列测试单元包括多个阵列测试开关和多个阵列测试焊盘；以及单元测试单元，所述单元测试单元包括多个单元测试开关；其中，所述阵列测试单元设置于所述像素单元与所述单元测试单元之间，所述多个阵列测试开关的一端连接至所述像素单元的多条数据线，所述多个单元测试开关连接至所述多个阵列测试开关的另一端。
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