[发明专利]测试装置有效

专利信息
申请号: 201880069228.2 申请日: 2018-11-22
公开(公告)号: CN111279203B 公开(公告)日: 2023-07-11
发明(设计)人: 宋昌炫;郑宰欢 申请(专利权)人: 李诺工业股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R1/18;G01R31/28
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨文娟;臧建明
地址: 韩国釜山市江西*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开一种用于高速/高频测试的测试装置。所述测试装置包括:导电块,包括探针孔;至少一个信号探针,无接触地支撑在所述探针孔的内壁中,包括将与待测试对象的测试接触点接触的第一端,且能够沿长度方向缩回;以及同轴缆线,包括将与所述信号探针的第二端电接触的芯线。通过此测试装置,所述同轴缆线直接接触所述信号探针,因而完全阻挡测试电路板中的噪声。
搜索关键词: 测试 装置
【主权项】:
暂无信息
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