[实用新型]光学检测设备有效
| 申请号： | 201822200025.2 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN209640237U | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 杨德天;刘琦;张敏亮;车星光 | 申请（专利权）人： | 东泰高科装备科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 彭瑞欣;张天舒<国际申请>=<国际公布> |
| 地址： | 102200北京市昌平*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种光学检测设备，包括承载平台，用于承载被测物体；第一图像采集器，被配置在所述承载平台的上方，以采集所述被测物体顶面的图像数据；第二图像采集器，被配置在所述承载平台的侧方，以采集所述被测物体侧面的图像数据。在需要对被测物体的侧面和顶面进行检测时，可以将该被测物体放置在承载平台上，并分别启动顶部的第一图像采集器和侧部的第二图像采集器，从而可以获取被测物体顶面和侧面的图像数据，根据所获得的图像数据，可以分析被测物体的厚度或者被测物体的表面缺陷等，避免了传统地光学检测设备无法检测被测物体侧面图像数据的缺陷，拓宽了该光学检测设备的应用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 被测物体 图像采集器 承载平台 图像数据 光学检测设备 侧面 顶面 本实用新型 采集 表面缺陷 侧面图像 检测 侧方 配置 承载 应用 分析 | ||
【主权项】：
1.一种光学检测设备，其特征在于，包括：/n承载平台，用于承载被测物体；/n第一图像采集器，被配置在所述承载平台的上方，以采集所述被测物体顶面的图像数据；/n第二图像采集器，被配置在所述承载平台的侧方，以采集所述被测物体侧面的图像数据。/n
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