[实用新型]一种用于电离层H、He同位素测量的仪器有效
| 申请号： | 201820245878.5 | 申请日： | 2018-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN207923780U | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 刘子恒;贺怀宇;苏菲;魏勇;李坤 | 申请（专利权）人： | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人： | 巴晓艳 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及同位素分析技术领域，具体涉及一种用于电离层H、He同位素测量的仪器。利用金箔接受电离层轰击收集H、He等离子体，在密闭空间下对所述金箔加热将所述H、He等离子体释放为混合中性气体，在所述密闭空间内对所述混合中性气体电离分析其同位素组成得到H、He同位素的混合信号；吸附所述混合中性气体中的氢气，对剩余气体进行电离分析He同位素组成，通过计算得到H同位素的信号。本实用新型提供的测量仪器和方法实现了对电离层等离子体同位素原位测量测试分析从无到有的突破。 | ||
| 搜索关键词： | 电离层 中性气体 同位素 等离子体 本实用新型 同位素测量 同位素组成 密闭空间 电离 金箔 电离层等离子体 同位素分析 测量仪器 测试分析 混合信号 剩余气体 原位测量 氢气 吸附 轰击 加热 分析 释放 | ||
【主权项】：
1.一种用于电离层H、He同位素测量的仪器，其特征在于，所述仪器包括壳体、等离子收集盖体、气体同位素分析装置；所述壳体中空且一端开口，所述盖体可移动的盖合所述壳体的开口端形成密闭空间；所述等离子收集盖体包括第一侧和第二侧，盖合时，所述第一侧与所述壳体的开口端接触；所述第一侧连接有加热装置，可控制所述加热装置为所述第一侧加热；所述气体同位素分析装置设置在所述壳体内。
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