[发明专利]一种井壁微电阻率扫描成像测井仪的分段刻度方法有效

专利信息
申请号: 201811384773.9 申请日: 2018-11-20
公开(公告)号: CN109577965B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 李剑浩;周军;刘昱晟;李国军;王伟;倪路桥;陈小磊 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种井壁微电阻率扫描成像测井仪的分段刻度方法,包括:将井壁微电阻率扫描成像测井仪置入已知不同电阻率的标准地层中;通过所述井壁微电阻率扫描成像测井仪的阵列电极向标准地层中发射电流,测量不同电阻率环境下仪器各电极的响应读数;根据标准地层电阻率数值与电极响应读数,确定所述井壁微电阻率扫描成像测井仪在不同电阻率区间下响应读数与真电阻率的函数关系,实现井壁微电阻率扫描成像测井仪测量得到的视电阻率向真电阻率的刻度。本发明解决了井壁微电阻率扫描成像测井仪无法直接获取地层真电阻率的问题。
搜索关键词: 一种 井壁 电阻率 扫描 成像 测井 分段 刻度 方法
【主权项】:
1.一种井壁微电阻率扫描成像测井仪的分段刻度方法,其特征在于,该方法将井壁微电阻率扫描成像测井仪置入已知不同电阻率的标准地层中,通过所述井壁微电阻率扫描成像测井仪的阵列电极向标准地层中发射电流I,测量不同电阻率Ri下仪器各电极的响应读数Ni;根据Ri与Ni确定所述井壁微电阻率扫描成像测井仪响应读数与真电阻率数值的函数关系,实现井壁微电阻率扫描成像测井仪测量的视电阻率向真电阻率的刻度;其中i=1,2,...,n为电极编号。
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