[发明专利]一种平面光波导器件及温度测量系统在审

专利信息
申请号: 201811350200.4 申请日: 2018-11-14
公开(公告)号: CN109115365A 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 谢建毫;刘东昌;张建平 申请(专利权)人: 深圳伊讯科技有限公司
主分类号: G01K11/32 分类号: G01K11/32;G02B6/125
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518101 广东省深圳市宝安区新安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种平面光波导器件及温度测量系统,包括探测光源、光电探测器、平面光波导器件和测量光纤;平面光波导器件包括一基片,基片内设置有N个测温通道;每个测温通道包括入射光路、反射光路和出射光路;在N个并列设置的测温通道中,一个测温通道的入射光路与其它至少一个测温通道的反射光路之间设置有交叉点;探测光源与入射光路相连通,光电探测器与反射光路相连通,测量光纤与出射光路相连通;测量光纤内设置有FBG传感器。进行多通道测温时,在N个并列设置的测温通道中,一个测温通道的入射光路与其它至少一个测温通道的反射光路之间设置有交叉点,实现光信号的传输、测量和解调。
搜索关键词: 测温 平面光波导器件 反射光路 入射光路 测量光纤 温度测量系统 光电探测器 并列设置 出射光路 探测光源 多通道 解调 测量 传输
【主权项】:
1.一种平面光波导器件,其特征在于:包括一基片,所述基片内设置有N个并列设置的测温通道;其中,N为大于1的整数;每个所述测温通道包括一个入射光路、一个反射光路和一个出射光路;在同一测温通道中,所述入射光路、所述反射光路和所述出射光路通过一共同结点相连通;在N个并列设置的测温通道中,一个测温通道的入射光路与其它至少一个测温通道的反射光路之间设置有交叉点。
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