[发明专利]存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质有效
| 申请号： | 201811299520.1 | 申请日： | 2018-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN109446013B | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 张辉 | 申请（专利权）人： | 深圳三地一芯电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国;王韬 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质，该方法应用于存储设备测试系统中，存储设备测试系统包括测试设备及与测试设备连接的连接器，连接器用于连接待测试的多个存储设备，存储设备测试方法包括以下步骤：测试设备的测试程序向连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向测试程序反馈的测试异常信号；当过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。本发明实现了提高多存储设备的测试效率的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 测试 方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
1.一种存储设备测试方法，用于存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备及与所述测试设备连接的连接器，所述连接器用于连接待测试的多个存储设备，其特征在于，所述存储设备测试方法包括以下步骤：测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳三地一芯电子有限责任公司，未经深圳三地一芯电子有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811299520.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
