[发明专利]重建粒子径迹的方法和设备、以及检查方法和检查设备在审
| 申请号： | 201811294703.4 | 申请日： | 2018-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN109283588A | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 于昊;刘必成;易茜;王永强;曾鸣;宫辉;李荐民;孙尚民;李元景;陈志强 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00;G01N23/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张启程 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种用于重建宇宙射线粒子的径迹的方法和设备、以及检查方法和检查设备。所述方法包括：利用宇宙射线粒子探测器探测宇宙射线粒子，所述宇宙射线粒子探测器包括至少一个闪烁体和多个漂移管，在所述宇宙射线粒子的作用下，所述多个漂移管中的至少2个漂移管中的带电粒子产生漂移；利用所述至少一个闪烁体，记录宇宙射线粒子入射至所述宇宙射线粒子探测器的时间零点；根据所述时间零点，计算所述至少2个漂移管中带电粒子的漂移时间；基于计算出的漂移时间，确定宇宙射线粒子入射至所述至少2个漂移管的位置；和根据确定出的宇宙射线粒子入射至所述至少2个漂移管的位置，拟合出宇宙射线粒子的径迹。 | ||
| 搜索关键词： | 宇宙射线 漂移管 粒子 漂移 粒子探测器 入射 方法和设备 带电粒子 检查设备 闪烁体 径迹 粒子径迹 重建 拟合 检查 探测 记录 | ||
【主权项】：
1.一种用于重建宇宙射线粒子的径迹的方法，包括以下步骤：利用宇宙射线粒子探测器探测宇宙射线粒子，所述宇宙射线粒子探测器包括至少一个闪烁体和多个漂移管，在所述宇宙射线粒子的作用下，所述多个漂移管中的至少2个漂移管中的带电粒子产生漂移；利用所述至少一个闪烁体，记录宇宙射线粒子入射至所述宇宙射线粒子探测器的时间零点；根据所述时间零点，计算所述至少2个漂移管中带电粒子的漂移时间；基于计算出的漂移时间，确定宇宙射线粒子入射至所述至少2个漂移管的位置；和根据确定出的宇宙射线粒子入射至所述至少2个漂移管的位置，拟合出宇宙射线粒子的径迹。
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