[发明专利]电子元件输送装置以及电子元件测试装置在审
| 申请号： | 201811293376.0 | 申请日： | 2018-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN109752635A | 公开（公告）日： | 2019-05-14 |
| 发明（设计）人： | 实方崇仁 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;B65G43/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 张永明;玉昌峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供一种电子元件输送装置以及电子元件测试装置，使用例如摄像机等成像部，能够正确判断载置部上是否载置有电子元件。电子元件输送装置向测试电子元件的测试部输送电子元件，具备：载置部，载置电子元件；成像部，对载置部成像；激光照射部，向载置部照射激光；控制部，具有判断载置部是否载置有电子元件的判断部，并且在判断部进行判断时，控制成像部和激光照射部的操作；判断部在判断载置部是否载置有电子元件时，在来自激光照射部的激光照射载置部的状态下，通过成像部对载置部成像，获得载置部中的灰度图像，根据灰度图像中的亮度的边界部分，判断是否载置有电子元件。 | ||
| 搜索关键词： | 载置部 载置 成像部 激光照射部 输送装置 电子元件测试装置 灰度图像 成像 测试电子元件 激光照射 摄像机 照射 激光 测试 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件输送装置，其特征在于，向测试电子元件的测试部输送所述电子元件，所述电子元件输送装置具备：载置部，载置所述电子元件；成像部，对所述载置部成像；激光照射部，向所述载置部照射激光；以及控制部，具有判断所述载置部是否载置有所述电子元件的判断部，在通过所述判断部进行判断时，控制所述成像部以及所述激光照射部的操作；所述判断部在判断所述载置部是否载置有所述电子元件时，在来自所述激光照射部的所述激光照射所述载置部的状态下，通过所述成像部对所述载置部成像，获得所述载置部中的灰度图像，根据所述灰度图像中的亮度的边界部分，判断是否载置有所述电子元件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社，未经精工爱普生株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811293376.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
