[发明专利]一种提高表面增强激光诱导击穿光谱探测灵敏度的制样方法在审
| 申请号： | 201811282606.3 | 申请日： | 2018-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN109557082A | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 杨新艳;崔执凤;姚关心;郑贤锋;盛晓伟;黄静春;刘小明;俞硕;周正仙 | 申请（专利权）人： | 安徽师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/71 | 分类号： | G01N21/71;G01N1/34 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 241002 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高表面增强激光诱导击穿光谱探测灵敏度的制样方法，该方法采用原位多次制样辅助表面增强激光诱导击穿光谱（SENLIBS）技术，即在第一次制备的圆形分析层范围内循环多次滴加待测液滴，并进行干燥，增加了固定面积内的待测元素的浓度，提高了目标元素光谱强度，降低了SENLIBS技术对待测元素的检测极限，提高了SENLIBS技术的探测灵敏度。相对于现有的SENLIBS技术制样方法，具有无需辅助额外的萃取试剂，制样流程简单，无需专业人员操作，面向全元素制样，普适性强等技术。 | ||
| 搜索关键词： | 制样 激光诱导击穿光谱 探测灵敏度 表面增强 专业人员操作 辅助表面 目标元素 萃取试剂 待测液 分析层 内循环 普适性 全元素 滴加 光谱 制备 检测 | ||
【主权项】：
1.一种提高表面增强激光诱导击穿光谱探测灵敏度的制样方法，其特征在于，该方法采用原位多次制样辅助表面增强激光诱导击穿光谱（SENLIBS）技术，即在第一次制备的圆形分析层范围内循环多次滴加待测液滴，并进行干燥，增加了固定面积内的待测元素的浓度，提高了目标元素光谱强度，降低了SENLIBS技术对待测元素的检测极限，提高了SENLIBS技术的探测灵敏度。
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