[发明专利]一种提高背照式光电二极管响应度的结构及制作方法在审

专利信息
申请号: 201811282182.0 申请日: 2018-10-31
公开(公告)号: CN109461778A 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 黄晓峰;王立;崔大健;高新江;莫才平;迟殿鑫;樊鹏;陈伟 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216;H01L31/0304;H01L31/105
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 王海军
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及半导体光电二极管领域,特别涉及一种提高背照式光电二极管响应度的结构及制作方法,所述结构包括衬底,在衬底上生长有吸收层、渐变层、窗口层和欧姆接触层;所述结构采用台面型芯片结构,台面表面覆盖有钝化层,有源区窗口覆盖有P电极,从台面下N型接触层引出N电极,与P电极形成共平面电极;本发明有效减小欧姆接触面积,将增加二极管串联电阻,降低其频率特性,在高速光电二极管设计中上述影响将更加明显。
搜索关键词: 光电二极管 背照式 响应度 衬底 半导体光电二极管 高速光电二极管 二极管串联 欧姆接触层 台面型芯片 欧姆接触 频率特性 台面表面 窗口层 钝化层 共平面 渐变层 吸收层 电极 台面 电阻 减小 源区 覆盖 制作 生长
【主权项】:
1.一种提高背照式光电二极管响应度的结构,其特征在于,所述结构包括衬底,在衬底上生长有吸收层、渐变层、窗口层和欧姆接触层;所述结构采用台面型芯片结构,台面表面覆盖有钝化层,有源区窗口覆盖有P电极,从台面下N型接触层引出N电极,与P电极形成共平面电极。
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