[发明专利]一种微流控芯片、微流控检测装置及微流控检测方法在审
| 申请号： | 201811142400.0 | 申请日： | 2018-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN109225365A | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 陈龙 | 申请（专利权）人： | 首慈康健养老有限公司 |
| 主分类号： | B01L3/00 | 分类号： | B01L3/00;G01N35/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100020 北京市朝阳区慈*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于医学检测技术领域，尤其涉及一种微流控芯片、微流控检测装置及微流控检测方法。本发明提供了一种微流控芯片，包括微流控芯片基片、待测物检测室和侧抛磨光纤；侧抛磨光纤固定设置在微流控芯片基片的表面，侧抛磨光纤的侧抛磨区开口向上设置在微流控芯片基片的表面；待测物检测室包裹在侧抛磨光纤的侧抛磨区的外周，使得待测物置于待测物检测室的侧抛磨区。本发明还公开了一种微流控检测装置和微流控检测方法。该发明解决传统的微流控芯片的检测灵敏度和准确度低和微流控检测装置过大的技术缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 微流控芯片 微流控 抛磨 检测装置 待测物 检测室 光纤 检测 检测灵敏度 准确度 光纤固定 技术缺陷 开口向上 医学检测 传统的 外周 | ||
【主权项】：
1.一种微流控芯片，其特征在于，包括微流控芯片基片、待测物检测室和侧抛磨光纤；所述侧抛磨光纤固定设置在所述微流控芯片基片的表面，所述侧抛磨光纤的侧抛磨区开口向上设置在所述微流控芯片基片的表面；所述待测物检测室包裹在所述侧抛磨光纤的侧抛磨区的外周，使得待测物置于所述待测物检测室的侧抛磨区。
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