[发明专利]一种半导体设备振动元件性能监测方法及系统在审
申请号: | 201811094451.0 | 申请日: | 2018-09-19 |
公开(公告)号: | CN110926588A | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 胡博文;其他发明人请求不公开姓名 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G01H1/00 | 分类号: | G01H1/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 王华英 |
地址: | 230601 安徽省合肥市合肥*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开一种半导体设备振动元件性能监测方法及系统,所述半导体设备振动元件性能监测方法包括:首先建立半导体设备振动元件的故障振动波形数据库,采集多个所述振动传感器的振动信号,再对所述振动信号进行处理,以得到相应的多个波形信号,对多个所述波形信号与所述故障振动波形数据库进行比对分析,实时监控所述半导体设备振动元件的工作状态。本发明能够保障在半导体设备振动元件发生故障前启动报警功能,预先采取应变措施,防止突发性停机事故的发生,达到生产稳定化目标。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体设备 振动 元件 性能 监测 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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