[发明专利]一种断层侧向封闭性定量评价方法有效

专利信息
申请号: 201811073289.4 申请日: 2018-09-14
公开(公告)号: CN109239778B 公开(公告)日: 2019-08-16
发明(设计)人: 蒋有录;赵凯;胡洪瑾;刘华 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30
代理公司: 青岛清泰联信知识产权代理有限公司 37256 代理人: 李祺;张洁
地址: 266580 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提出一种断层侧向封闭性定量评价方法,属于油气勘探领域,该方法考虑地层压实校正,能够准确评价油气成藏期至今的多个时期断层侧向封闭演化特征。该评价方法包括如下步骤:针对油气成藏期至现今时期之前的每个时间单元,通过去压实校正法对油气成藏期至现今时期之前的每个时间单元的地层进行恢复,分别计算每个时间单元时不同深度单砂层所对应的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率;计算现今时期对应的现今泥岩涂抹因子、现今泥岩涂抹势和现今断层泥比率;当古时期和现今时期对应的泥岩涂抹因子、泥岩涂抹势和断层泥比率均达到门限要求时,断层侧向封闭;否则,断层曾侧向开启。
搜索关键词: 断层 泥岩 涂抹 时间单元 侧向 油气 侧向封闭 定量评价 封闭性 压实 地层 校正 油气勘探领域 侧向开启 门限要求 砂层 恢复
【主权项】:
1.一种断层侧向封闭性定量评价方法,其特征在于,包括如下步骤:(一)针对油气成藏期至现今时期之前的每个时间单元,通过去压实校正法,逐一恢复每一时间单元时被错断的每一地层的古厚度和古断距;针对每一地层中不同深度的单砂层,计算每一时间单元时累计涂抹过所述单砂层的泥岩古厚度;(二)分别计算在油气成藏期至现今时期之前每个时间单元时,不同深度单砂层所对应的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率;针对某一时间单元,深度为h的单砂层的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率的计算公式分别如下:CSP(h)=∑{[Dm古(h)]2÷L(h)}                     (2)SGR(h)=∑[Dm古(h)]÷L(h)                        (3)其中,SSF(h)为深度为h的单砂层在所述时间单元时对应的古泥岩涂抹因子;CSP(h)为深度为h的单砂层在所述时间单元时对应的古泥岩涂抹势;SGR(h)为深度为h的单砂层在所述时间单元时对应的古断层泥比率;L(h)为所述时间单元时深度为h的单砂层所在地层的古断距;Dm古(h)为所述时间单元时累计涂抹过深度为h的单砂层的泥岩古厚度;(三)根据地质资料,统计被错断的每一地层的现今断距,并针对每一地层中不同深度的单砂层,统计累计涂抹过所述单砂层的现今泥岩厚度,进而计算不同深度单砂层所对应的现今泥岩涂抹因子、现今泥岩涂抹势和现今断层泥比率,深度为h的单砂层的现今泥岩涂抹因子、现今泥岩涂抹势和现今断层泥比率的计算公式分别如下:CSP现今(h)=∑{[Dm现今(h)]2÷L现今(h)}               (5)SGR现今(h)=∑[Dm现今(h)]÷L现今(h)                  (6)其中,SSF现今(h)为深度为h的单砂层的现今泥岩涂抹因子;CSP现今(h)为深度为h的单砂层的现今泥岩涂抹势;SGR现今(h)为深度为h的单砂层的现今断层泥比率;L现今(h)为深度为h的单砂层所在地层的现今断距;Dm现今(h)为现今时期时累计涂抹过深度为h的单砂层的现今泥岩厚度;(四)根据断层所在区域的油气显示情况,确定断层侧向封闭时所对应的泥岩涂抹因子上限、泥岩涂抹势下限和断层泥比率下限,从而对断层在不同深度的侧向封闭性进行评价;评价标准为:当某深度范围内的所有单砂层对应的全部古泥岩涂抹因子和现今泥岩涂抹因子均小于泥岩涂抹因子上限,全部古泥岩涂抹势和现今泥岩涂抹势均大于泥岩涂抹势下限,且全部古断层泥比率和现今断层泥比率均大于断层泥比率下限时,断层在该深度范围内均侧向封闭;否则,断层在该深度范围内曾侧向开启。
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