[发明专利]标准单元测试电路版图及其优化方法、标准单元测试结构有效
| 申请号： | 201811055812.0 | 申请日： | 2018-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN110888038B | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 王夺;陈志强;唐伟峰;张凤娟;陈乃霞 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/30 | 分类号： | G06F30/30 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛异荣;吴敏 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
一种标准单元测试电路版图及其优化方法、标准单元测试结构，标准单元测试电路版图包括：第一待测单元电路；第一待测单元电路包括：若干级第一标准单元；若干级第一标准单元排列成Y |
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| 搜索关键词： | 标准 单元测试 电路 版图 及其 优化 方法 结构 | ||
【主权项】：
暂无信息
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