[发明专利]一种逻辑芯片测试装置在审
| 申请号： | 201811021915.5 | 申请日： | 2018-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN110873838A | 公开（公告）日： | 2020-03-10 |
| 发明（设计）人： | 吕德深;梁承权;黄世玲 | 申请（专利权）人： | 南宁学院 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177;G01R31/319 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 530200 广西壮族自治*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种逻辑芯片测试装置，属于电子技术领域。该装置包括单片机模块、芯片插座模块、按键模块、液晶显示模块、声光报警模块、语音播报模块，可选择芯片识别模式或元件好坏判断模式。识别模式下，将芯片放入芯片座模块可识别常见74系列芯片，识别结果显示在液晶显示模块，并语音播报芯片的型号；元件好坏判断模式下，可通过按键输入74系列芯片的型号，将芯片放入芯片座模块可判断元件的好坏，液晶显示模块显示好坏情况，若芯片坏装置发出声光报警和语音警告提示。本装置应用在芯片检测回收场合，芯片循环回收，节约了资源，减少了芯片的浪费。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 逻辑 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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