[发明专利]一种工业摄影测量基准尺有效
| 申请号： | 201810970233.2 | 申请日： | 2018-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN108827156B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 李维诗;李治城;张瑞;于连栋;夏豪杰 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230009 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种工业摄影测量基准尺，基准尺上固定有两组共十个标志点，每组五个标志点，且每组标志点中相邻标志点之间标称距离的比例关系满足1:1:2:1或2:1:2:1或2:1:2:3或1:1:2:3或3:1:2:3或3:1:2:1或3:1:2:2或1:1:2:2或2:1:2:2，其中一组标志点固定于理论上与基准尺长度方向平行的平面上，另外一组标志点分别固定于理论上与基准尺长度方向成45度夹角的五个平面上，且后一组标志点之间的最大距离约为前一组标志点之间最大距离的 |
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| 搜索关键词： | 一种 工业 摄影 测量 基准 | ||
【主权项】：
1.一种工业摄影测量基准尺，其特征在于：包括有基准尺，基准尺上固定有两组共十个标志点，每组五个标志点，且每组标志点中相邻标志点之间标称距离的比例关系满足1:1:2:1或2:1:2:1或2:1:2:3或1:1:2:3或3:1:2:3或3:1:2:1或3:1:2:2或1:1:2:2或2:1:2:2。
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