[发明专利]光纤输出光束轮廓测量方法和光纤输出光束轮廓测量装置有效
| 申请号： | 201810736021.8 | 申请日： | 2018-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN109211527B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 林哲也;永岛拓志 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 顾红霞;张芸 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本文提供了一种用于测量从随机耦合的多芯光纤输出的光束的轮廓的方法及装置。该装置包括光源、测量单元和分析单元。将从光源输出的光在光纤的输入端输入到光纤的多个空间模式中的一个或多个空间模式中。测量单元通过对在光纤的输出端从多个空间模式输出的组合光的光束轮廓的多个空间模式之间的干涉分量求平均，来测量从多个空间模式中的相应空间模式输出的各个光分量的强度分布的总和。分析单元根据由测量单元获得的各个光分量的强度分布的总和来计算光纤的MFD和/或A |
||
| 搜索关键词： | 光纤 输出 光束 轮廓 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量从具有随机耦合的多个空间模式的光纤输出的光束的轮廓的方法，所述方法包括：测量步骤，将从光源输出的光在所述光纤的输入端输入到所述光纤的所述多个空间模式中的一个或多个空间模式中，并且通过对在所述光纤的输出端从所述多个空间模式输出的组合光的光束轮廓的多个空间模式之间的干涉分量求平均，来测量从所述多个空间模式中的相应的一个空间模式输出的各个光分量的强度分布的总和；以及分析步骤，根据所述强度分布的总和来计算所述光纤的输出光束评估指标。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友电气工业株式会社，未经住友电气工业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810736021.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
