[发明专利]附着物检测方法及装置和系统、附着物学习方法及装置、程序在审

专利信息
申请号: 201810714547.6 申请日: 2018-07-03
公开(公告)号: CN109241818A 公开(公告)日: 2019-01-18
发明(设计)人: 谷川彻;庄田幸惠;芋本征矢 申请(专利权)人: 松下电器(美国)知识产权公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/62
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 徐健;段承恩
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种附着物检测方法、附着物学习方法、附着物检测装置、附着物学习装置、附着物检测系统以及程序,能较高精度地检测拍摄图像中呈现的附着物。通过至少一个计算机来检测在隔开拍摄元件和拍摄对象的透光体附着的对象附着物的附着物检测方法包括:取得通过拍摄元件经由透光体拍摄而生成的拍摄图像(步骤S301);通过将拍摄图像作为输入数据输入到识别模型而输出的表示拍摄图像中有无附着物的信息,由此检测拍摄图像中有无对象附着物,所述识别模型用于识别经由透光体拍摄带的图像中有无附着于所述透光体的附着物(步骤S302)。
搜索关键词: 附着物 拍摄图像 透光体 检测 对象附着物 拍摄元件 附着 检测系统 检测装置 拍摄对象 学习装置 拍摄 隔开 图像 输出 学习 计算机
【主权项】:
1.一种附着物检测方法,通过至少一个计算机来检测在隔开拍摄元件和拍摄对象的透光体附着的对象附着物,包括:取得通过所述拍摄元件经由所述透光体拍摄而生成的拍摄图像;取得通过将所述拍摄图像作为输入数据输入到识别模型而输出的表示所述拍摄图像中有无附着物的信息,由此检测所述拍摄图像中有无所述对象附着物,所述识别模型用于识别经由透光体拍摄到的图像中有无附着于所述透光体的附着物。
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