[发明专利]一种应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法在审
| 申请号： | 201810435064.2 | 申请日： | 2018-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN108680473A | 公开（公告）日： | 2018-10-19 |
| 发明（设计）人： | 冯银厂;徐娇;史国良;王玮 | 申请（专利权）人： | 南开大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06;G06K9/62 |
| 代理公司： | 天津耀达律师事务所 12223 | 代理人： | 张耀 |
| 地址： | 300071*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，涉及大气颗粒物源解析领域。该方法结合了KNN分类器和CMB源解析模型，充分利用了污染源的单颗粒质谱信息和环境受体单颗粒质谱特征以及粒径信息，能够快速求解出颗粒物一次排放源及二次排放源对单个环境受体颗粒的贡献，并可获得高时间分辨率和高粒径分辨率的精细化源解析结果，具有良好的推广应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒物 解析 单颗粒气溶胶 环境受体 单颗粒 排放源 质谱仪 粒径 质谱 高时间分辨率 大气颗粒物 解析结果 解析模型 精细化 分辨率 求解 应用 污染源 | ||
【主权项】：
1.一种应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，其特征在于所述方法包括：第1步、构建污染源单颗粒质谱综合谱库；第2步、找到某环境受体单颗粒X所属污染源范围P；第3步、进一步分析环境受体单颗粒X所属污染源P中的特征Pi；第4步、求解Pi和二次源对环境受体单颗粒X的贡献值。
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