[发明专利]用于全站仪仪器高激光测量的测量标志与使用方法在审
| 申请号： | 201810346415.2 | 申请日： | 2018-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN108426570A | 公开（公告）日： | 2018-08-21 |
| 发明（设计）人： | 廖孟光;李羲;李朝奎;卜璞;刘正佳 | 申请（专利权）人： | 湖南科技大学 |
| 主分类号： | G01C15/06 | 分类号： | G01C15/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 411201 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明所要解决的问题是使得测量标志适用于仪器高高精度激光测量。用于全站仪仪器高激光测量的测量标志，其特征为包括测量标志和白陶瓷块，白陶瓷块上表面平整光滑，白陶瓷块嵌入并固定在测量标志上表面中央，白陶瓷块的面积大于或等于激光位移传感器的光斑面积，使用时，白陶瓷块上表面中心垂直接收并反射激光位移传感器发射的激光，激光位移传感器垂直安装在全站仪基座中心下方。该测量标志有益效果如下：1、利用白陶瓷块替换测量标志上对中标志处的凹槽，消除了其给激光测距带来的误差；2、白陶瓷块上表面保持水平，保证了激光测距精度；3、白陶瓷块上表面为平面，同时材料为白陶瓷块，能够保证激光测距精度。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷块 测量标志 激光测距 激光测量 全站仪 上表面 激光位移传感器 上表面中心 上表面中央 位移传感器 垂直安装 反射激光 基座中心 平整光滑 光斑 标志处 嵌入 替换 垂直 激光 保证 发射 | ||
【主权项】：
1.用于全站仪仪器高激光测量的测量标志，其特征为包括测量标志和白陶瓷块，白陶瓷块上表面平整光滑，白陶瓷块嵌入并固定在测量标志上表面中央，白陶瓷块的面积大于或等于激光位移传感器的光斑面积，使用时，白陶瓷块上表面中心垂直接收并反射激光位移传感器发射的激光，激光位移传感器垂直安装在全站仪基座中心下方。
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