[发明专利]一种测定电子电器材料中六价铬含量的方法在审
| 申请号： | 201810241821.2 | 申请日： | 2018-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN110296949A | 公开（公告）日： | 2019-10-01 |
| 发明（设计）人： | 黄世平;方咪娌;李江浩;焦文亮;吴显平;王志宇 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/33 | 分类号： | G01N21/33;G01N1/40 |
| 代理公司： | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人： | 王伟锋;刘铁生 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测定电子电器材料中六价铬含量的方法，涉及分析测试领域，解决了目前六价铬含量的测定方法准确度低的问题。该方法包括采用紫外可见分光光度计建立六价铬标准样品中六价铬浓度和吸光度的工作曲线，其中采用六价铬单元素标准溶液作为六价铬的标准物质，配置不同浓度的六价铬标准样品。该测定方法减少了六价铬含量检测过程中的干扰因素，提高了检测的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 六价铬 准确度 标准样品 电子电器 紫外可见分光光度计 标准溶液 标准物质 分析测试 干扰因素 工作曲线 含量检测 单元素 吸光度 检测 配置 申请 | ||
【主权项】：
1.一种测定电子电器材料中六价铬含量的方法，包括采用紫外可见分光光度计建立六价铬标准样品中六价铬浓度和吸光度的工作曲线，其特征在于，采用六价铬单元素标准溶液作为六价铬的标准物质，配置不同浓度的六价铬标准样品。
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