[发明专利]一种Nakagami衰落信道的测试系统及其验证方法

摘要

一种Nakagami衰落信道的测试系统及其验证方法，测试系统包括信号发生器、Nakagami衰落信道模拟器和计算机，信号发生器用于输出频率为f的正弦波信号并传至Nakagami衰落信道模拟器和计算机；Nakagami衰落信道模拟器用于产生Nakagami衰落信道；计算机用于数据处理与分析。验证方法分别验证Nakagami衰落信道时域衰落特性、一阶统计特性和二阶统计特性，时域衰落特性是在不同的Nakagami衰落因子下，在时域上验证波形波动速率和波动范围；一阶统计特性主要通过Kolmogorov Smirnov(KS)假设检验法来验证Nakagami衰落信道的幅值和相角分布统计特性；二阶统计特性主要验证功率谱密度函数的形状和带宽。本发明对Nakagami衰落信道模拟器或仿真模型性能的验证具有准确和可行性的特点。

主权项

1.一种Nakagami衰落信道的测试系统，其特征在于，包括信号发生器、Nakagami衰落信道模拟器和计算机，信号发生器通过SMA电缆线分别与Nakagami衰落信道模拟器及计算机单向连接，Nakagami衰落信道模拟器通过GPIB通用接口总线与计算机单向连接；所述信号发生器用于输出频率为f的正弦波信号x，正弦波信号x分别通过SMA电缆线传至Nakagami衰落信道模拟器和计算机；所述Nakagami衰落信道模拟器用于产生Nakagami衰落信道y，测试过程中，Nakagami衰落信道模拟器设置最大多普勒频移fd、损耗、莱斯因子K、相角、Nakagami衰落因子m，其中m为1或(K+1)2/(2K+1)，且打开其中一条Nakagami衰落信道路径通道，关闭其余路径通道；所述计算机用于对来自Nakagami衰落信道模拟器射频输出的Nakagami衰落信道y进行运算和分析，得出Nakagami衰落信道在时域和频域上的性能指标，以验证信道模型的准确性。