[发明专利]一种三坐标雷达点迹质量评估方法有效

专利信息
申请号: 201810181958.3 申请日: 2018-03-06
公开(公告)号: CN108181620B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 夏永红;匡华星;王超宇;张宁 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七二四研究所
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210003 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出一种三坐标雷达点迹质量评估方法,按照距离、俯仰和方位的顺序,距离维根据凝聚为当前距离点迹的距离单元个数和幅度统计特性计算距离检测凝聚质量,俯仰维根据凝聚为当前俯仰点迹的距离点迹个数、质量和幅度统计特性计算俯仰检测凝聚质量,方位维根据凝聚为当前点迹的俯仰点迹个数、质量和幅度统计特性计算方位检测凝聚质量,得到最终的三坐标雷达点迹质量。本发明方法在不改变现有数据处理流程的条件下,结合三坐标雷达点迹凝聚处理过程,对凝聚的点迹进行了质量评估,通过点迹质量对真实目标点迹和虚假点迹进行甄别,为虚假点迹剔除提供了参考依据。
搜索关键词: 一种 坐标 雷达 质量 评估 方法
【主权项】:
1.一种三坐标雷达点迹质量评估方法,其特征在于:步骤一:设点迹质量归一化因子为CQ,每维度凝聚质量最大值为Qmax_0,回波展宽倍数上限为κEP,距离检测凝聚质量Qr根据凝聚为当前距离点迹的过门限回波个数Nr_plot和幅度Ampi,i=1,…,Nr_plot计算,设雷达一个距离分辨单元内采样单元个数为Nres,如果Nr_plot≤Nres,Qr=max(0,Nr_plot‑Nres+1)CQ,max()为取最大运算;如果Nr_plot>Nres,则对Nr_plot个距离单元的幅度进行统计,如果Nr_plot个距离单元的幅度满足sinc函数特性,则距离检测凝聚质量为Qr=min(Qmax_0,Nr_plot‑Nres+1)CQ,min()为取最小运算,如果不满足sinc函数特性,则对Nr_plot进行判定,如果Nr_plot>κEPNres,Qr=0,否则Qr=0.5CQ;步骤二:计算俯仰检测凝聚质量,设俯仰向天线方向图3dB波宽跨越的俯仰单元个数为NEφ,俯仰检测凝聚质量Qe根据凝聚为当前俯仰点迹的距离点迹个数NRanPlot及其质量和幅度计算,如果NRanPlot≤NEφ,Qe=max(Qr_i)+(NRanPlot‑1)CQ,i=1,…,NRanPlot;如果NRanPlot>NEφ,则对NRanPlot个距离点迹的幅度进行统计判断,如果NRanPlot个距离点迹幅度在俯仰维满足俯仰天线方向图包络特性,则Qe=max(Qr_i)+min(Qmax_0,NRanPlot)CQ,如果不满足俯仰天线方向图包络特性,则对距离点迹个数NRanPlot进行判定,如果NRanPlot>κEPNEφ,则Qe=min(Qmax_0,min(Qr_i)),如果NEφ<NRanPlot≤κEPNEφ,则Qe=min(Qmax_0,mean(Qr_i)),mean()为取平均运算;步骤三:计算方位检测凝聚质量,设方位向天线方向图3dB波宽跨越的方位单元个数为NAθ,方位检测凝聚质量Qa根据凝聚为当前点迹的俯仰点迹个数NElePlot及其质量和幅度计算,如果NElePlot≤NAθ,Qa=max(Qe_i)+(NElePlot‑NAθ)CQ,i=1,…,NElePlot;如果NElePlot>NAθ,则对NElePlot个俯仰点迹的幅度进行统计判断,如果NElePlot个俯仰点迹幅度在方位维满足方位天线方向图包络特性,则对NElePlot个俯仰点迹质量从大到小排序,设第二大的俯仰点迹质量为Qe_max_2,方位检测凝聚质量Qa=Qe_max_2+min(Qmax_0,NElePlot‑NAθ+1)CQ,如果不满足,则对俯仰点迹个数NElePlot进行判定,如果NElePlot>κEPNAθ,则Qa=min(Qmax_0,min(Qe_i))/Qmax_0,如果NAθ<NElePlot≤κEPNAθ,则Qa=min(Qmax‑0,mean(Oe‑i))/Qmax‑0;步骤四:多维回波数据速度一致性判定,设速度一致性判定因子为ρv,则三坐标雷达点迹质量为Qplot=ρvQa。
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