[发明专利]基于吸收剂量深度分布计算辐射敏感部位电离吸收剂量的方法在审

专利信息
申请号: 201810135793.6 申请日: 2018-02-09
公开(公告)号: CN108345023A 公开(公告)日: 2018-07-31
发明(设计)人: 李兴冀;刘超铭;杨剑群;吕钢;刘勇 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 杨立超
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明提供基于吸收剂量深度分布计算辐射敏感部位电离吸收剂量的方法,属于空间环境效应、核科学与应用技术领域。本发明首先选取一种已知一维电离吸收剂量深度分布的材料,并将其吸收剂量深度分布转化为吸收剂量随等效厚度的分布;对辐射敏感部位所处的结构进行区域划分,确定各区域材料种类、材料厚度以及辐射敏感部位与区域连线的最大角度;然后将各个区域的材料的厚度转化为等效厚度,确定各个等效厚度的吸收剂量和单向吸收剂量,最终计算得到结构中敏感部位的电离吸收剂量。本发明解决了现有技术辐射敏感部位电离吸收剂量计算复杂、耗时长的问题。本发明可用于快速评估航天器等复杂结构的电离吸收剂量。
搜索关键词: 吸收剂量 电离 辐射敏感 分布计算 敏感部位 应用技术领域 复杂结构 技术辐射 空间环境 快速评估 区域材料 航天器 可用 连线 转化 耗时
【主权项】:
1.基于吸收剂量深度分布计算辐射敏感部位电离吸收剂量的方法,其特征在于,所述基于吸收剂量深度分布计算辐射敏感部位电离吸收剂量的方法具体包括以下步骤:步骤一、选取一种已知一维电离吸收剂量深度分布D(t)的材料A;步骤二、根据x=ρ×t/10,将步骤一中选取材料A的吸收剂量深度分布D(t)转化为吸收剂量随等效厚度D(x)的分布,其中,ρ表示材料密度,t表示材料厚度,x表示等效厚度;步骤三、以辐射敏感部位为球心做球体,使辐射敏感部位所处的结构完全包括在球体内,从径向E和维向ω将球体的表面划分为N个区域,N为大于2的整数,区域i所对应的径向尺寸范围为Ei,维向尺寸范围为ωi,i∈[1,N];步骤四、将辐射敏感部位与区域i的边上各点连线,确定区域i与连线所包裹的部分对应结构中所包含的M种材料、每种材料的厚度以及辐射敏感部位与区域i连线的最大角度αi;步骤五、将步骤四中确定的区域i内所有材料的厚度转化为等效厚度xi;步骤六、根据步骤二中吸收剂量随等效厚度D(x)的分布,确定等效厚度xi对应的吸收剂量D(xi);步骤七、将D(xi)转化为等效厚度xi对应的单向吸收剂量D′(xi);步骤八、重复步骤四~步骤七,分别得到i取1,2,…,N时对应的单向吸收剂量值D′(x1)~D′(xN);步骤九、计算得到结构中敏感部位的电离吸收剂量D,D的计算公式为:
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