[发明专利]一种在辐射近场区重建天线阵远场方向图的近场测试方法有效
| 申请号： | 201810092664.3 | 申请日： | 2018-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN108594026B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 刘培钦;张志军;李越 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人： | 段俊涛 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
一种在辐射近场区重建天线阵远场方向图的近场测试方法，属于天线测量技术领域，通过对待测天线阵中各天线单元进行相位修正，在辐射近场区中给定距离下重建天线阵远场方向图，相位修正是指由天线阵远场方向图波束指向(θ |
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| 搜索关键词： | 一种 辐射 场区 重建 天线阵 方向 近场 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在辐射近场区重建天线阵远场方向图的近场测试方法，通过对待测天线阵中各天线单元进行相位修正，在辐射近场区中给定距离下重建天线阵远场方向图，其特征在于，所述相位修正是指由天线阵远场方向图波束指向![]()
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和近场测试距离R共同决定各天线单元的相位分布。
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